电子元件伏安特性测试系统的设计开题报告

 2021-08-14 18:30:45

1. 研究目的与意义(文献综述包含参考文献)

文 献 综 述

一、电子元件伏安特性测试简介

采用常见的电子元件二极管和三极管,实现二极管正向伏安特性的测量和三极管伏安特性的测量。二极管和三极管伏安特性测试是电子技术实验中的基本实验之一,目前各院校实验教学中通常使用万用表、晶体管图示仪等多种仪器来完成该实验项目。这个实验项目往往是面向初学电子技术的学生开设,学生初次利用多种实验仪器完成实验势必影响实验效果。随着虚拟仪器技术的广泛应用,通过软件将计算机硬件资源与仪器硬件有机的融合,把计算机强大的计算处理能力和仪器硬件的测量、控制能力结合在一起,大大缩小了仪器硬件的成本和体积,并通过软件实现对数据的显示、存储以及分析处理。因此采用虚拟仪器技术开发晶体管特性测试仪器,可以实现对不同型号晶体管参数的测量并显示相应的特性曲线,完全可以达到实验测试要求。

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2. 研究的基本内容、问题解决措施及方案

要研究或解决的问题

1.了解虚拟仪器技术的研究现状、应用和发展;

2.熟悉labview编程环境;

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