1. 研究目的与意义（文献综述包含参考文献）
文 献 综 述
一、研究背景
当今集成电路在设计和加工技术方面有了飞速的发展,在同一块芯片上集成了数字电路核及模拟功能电路。然而这样一来，虽然能够提供大功能、高性能市场的应用需求包括音视频、多媒体、数据通讯等，然而所设计的芯片越复杂，制造商所面临的设计与测试难度也急剧增加，芯片不工作以及测试开发周期长的情况也频繁发生。因此，成品测试以及可测试性设计的理论和技术已成为集成电路领域中研究的重点。在测试中，测试项目包括dc（直流）测试和function（功能）测试及ac （交流）测试,将待测器件置于各种环境下测试其电气特性，若待测器件在恶劣的环境条件下能够达到设计规格书所设定的功能和性能指标，则产品合格通过。由计算机来控制实现这种功能的自动测试设备。为了能够减少复杂度不断增加的芯片的批量生产上市周期以及测试成本，测试工程师需要足够优化测试程序来缩短测试时间，另外通过使用一些相对便宜的测试仪来替代测试设备资源。如今对于一些精度高及有特殊作用的集成电路的成本已经占到芯片生产成本的一大部分，因此对集成电路测试原理、测试方法的探究是很有意义的，而保证测试的准备性以及缩短测试时间也成为测试开发的重点。
2. 研究的基本内容、问题解决措施及方案
本次的课题主要是实现IX528AQ器件在测试系统平台上的封装测试，而测试平台主要是模拟待测器件的终端应用环境。首先根据产品的测试规格，先总结出待测器件的每个管脚对应的输入信号输出信号以及输出参数值的范围大小。以器件的输入信号作为参考为测试机配置电源板，通过通讯线的连接将测试机中的资源引到测试盒上。为待测器件设计测试程序，要保证每个测试项是独立进行，通过不断调试和优化测试程序来达到缩短测试时间提高测试精确度的目的，最终能进一步提高产品的收率。本次课题应用到的硬件设备包括测试机STS8200、Acco的测试盒测试电路板，软件有STS8200专用测试系统。通过通讯线连接好测试设备并对器件进行测试，通过判断返回的数值信号是否在设计的参数值范围内判断产品的合格与不合格。对于不合格的产品应进一步分析判断，是硬件设备资源的原因包括电源板问题、通讯线问题、测试电路板问题、设备间的接触问题等，还是程序问题例如：程序用于控制电源板资源时，实际环境中电源板输出信号的建立时间与程序中输入信号的延迟时间不一致导致。
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