Texas Instruments LM3S817芯片编程测试装置软硬件设计开题报告

1. 研究目的与意义、国内外研究现状（文献综述）

随着社会的进步和生产力的发展，芯片集成的规模和成本越来越大，所以芯片测试的发展既可以验证芯片的可靠性，也可以在芯片开发过程中提早发现错误，节约成本。在应用科学技术四十多年的发展史中，根据电子产品设计和制造的需要芯片测试技术逐渐的发展了起来，测试技术的发展和应用有益于电子产品的质量和经济发展。为了在芯片到达用户手之前找出错误，良好的测试过程是必要的。随着芯片测试的发展，产品质量有所提高，产品销售进入良性循环。报废产品的生产成本可以用合格的产品来补偿，我们必须以优化的质量和最低的成本来满足用户。芯片测试不仅可以判断这个器件是否满足用户的条件，是否合格，它还可以得出制造中出现的一些可用信息，这样不仅可以方便我们提高成品率，还能让我知道芯片测试中的哪一个环节出现了问题，以便自己去修改弥补。伴随着集成电路的发展，芯片测试越来越重要，它促进了这一行业的蓬勃发展，为集成电路做出了巨大的贡献。当前国内市场中存储技术扩展非常迅猛，flash闪存用量越来越多。由于flash闪存可靠、低成本、容易携带这些特点使得它在移动行业中非常火热。用户们的大量需求催生了flash芯片的研发，这样的企业公司也逐渐多了起来。为了使得芯片在出售后可以长期的工作并且可靠，这些公司必须要在flash闪存出厂前对他进行非常可靠细致的测试，所以，在当今电子行业的发展中，flash闪存测试研究十分必要。

本文中我们使用linux系统结合mobaxterm软件对芯片进行flash检测，验证可靠性。我们现在大部分人办公习惯性的是在windows下，在windows的基础中安装虚拟机这样可以进行嵌入式的开发而不用去重新装机。使用虚拟机中的linux进行开发可以减少软硬件直接不兼容问题。linux操作系统可以快速轻松便捷的完成数据备份，这样以便于统一管理，降低维护成本。

研究目的：

2. 研究的基本内容和问题

主要研究内容：

lm3s817是ti公司推出的一款控制器芯片，在制作应用系统之前，需要对该器件的相关功能和电气特性进行详细测试。针对lm3s817芯片专用测试装置缺乏的现实，本课题采用计算机技术，设计并制作专用芯片的测试装置，用于对lm3s817芯片的特性测试，包括功能直流，交流等测试，验证芯片是否符合规格书的要求。此外还需对芯片进行参数测试，验证芯片性能，并能根据实际对测试装置进行调整。

预期目标：

3. 研究的方法与方案

研究方法：

1. 查阅相关资料和文献，了解国内外基于lm3s817芯片的发展现状，从中整理和总结出实现方法课题研究做好充分准备。

2. 通过学习mobaxterm、ubuntus等软件，熟练掌握单片机和上层应用软件的开发。

4. 研究创新点

[1] 许伟达. ic测试原理-芯片测试原理[j]. 半导体技术,2006..

[2] 肖金球. 单片机原理与应用技术[m].北京:清华大学出版社,2019:12-27.

[3] 卢运. 王小艳. 基于多种总线的测量综合控制器测试台的研究与实现[d]. 2009.

5. 研究计划与进展

1、第1-3周，查阅相关技术资料，确定设计方案，完成开题报告。

2、第4-5周，了解lm3s817芯片手册和功能特性，细化整体实现方案，学习和熟悉硬件电路，进行硬件电路设计。

3、第6-8周，完成硬件电路的详细设计，并完成5000字英文翻译。